直讀光譜儀LAB S – 高端金屬分析真正意義上的革命

20秒內(nèi)獲得高準(zhǔn)確度的結(jié)果（例如：低合金鋼）
定期維護(hù)的工作量（火花臺清洗）減少8倍
元素在低合金鋼中平均檢測限改善2倍，元素在純鋁中的平均檢測限改善5倍
儀器的占地面積減少27%
單一標(biāo)樣實(shí)現(xiàn)整個系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)化, 此項(xiàng)每天可節(jié)省30分鐘工作時間

作為電弧/火花創(chuàng)新技術(shù)的創(chuàng)造者，40多年來，全心投入開發(fā)出世界全新的發(fā)射光譜儀。今天，完善引入CMOS探測器技術(shù)，徹底改變了高端電弧/火花分析技術(shù)的走向及未來。在所有同類分析儀中，LAB S所提供分析速度超出想象，元素檢測限低至極限，同時她也可以提供很長的正常運(yùn)行時間和非常具有前瞻性的靈活性

LAB S 擁有世界上第一個基于CMOS的探測器的記錄系統(tǒng)，該系統(tǒng)非常適合于中高端金屬分析。從微量元素到多基體應(yīng)用，它提供了快速、高度準(zhǔn)確、異常靈活的技術(shù)選擇。

樣品的分析速度是儀器性能的重要標(biāo)志，LAB S的推出完全滿足了金屬分析市場對速度的需求。例如：當(dāng)檢測低合金鋼時，它可以在20秒或更短的時間內(nèi)提供高準(zhǔn)確度的測量值！

從技術(shù)指標(biāo)和實(shí)際使用效果看，S均是目前金屬冶煉廠選擇的、高性能的光譜儀。對于金屬再加工生產(chǎn)商、汽車和航空航天制造商、以及成品和半成品、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體等制造商來說，她給出的解決方案同樣優(yōu)良。

應(yīng)用領(lǐng)域application range